Archivio istituzionale della ricerca dell'Università degli Studi di Palermo

Zola, D., Grilli, M., Piegari, A., Sytchkova, A., Giambra, M., Parisi, A., et al. (2013). TOTAL INTERNAL REFLECTION ELLIPSOMETRY FOR THE SPECTROSCOPIC INVESTIGATION OF ULTRATHIN SILVER/OXIDE FILMS. In Proceeding 15° Convegno Nazionale delle Tecnologie Fotoniche.

TOTAL INTERNAL REFLECTION ELLIPSOMETRY FOR THE SPECTROSCOPIC INVESTIGATION OF ULTRATHIN SILVER/OXIDE FILMS

Giambra, Marco Angelo;PARISI, Antonino;BUSACCA, Alessandro;
2013-01-01
Settore ING-INF/01 - Elettronica
21-mag-2013
15° Convegno Nazionale delle Tecnologie Fotoniche
Milano
21-23 Maggio 2013
15
2013
4
Zola, D., Grilli, M., Piegari, A., Sytchkova, A., Giambra, M., Parisi, A., et al. (2013). TOTAL INTERNAL REFLECTION ELLIPSOMETRY FOR THE SPECTROSCOPIC INVESTIGATION OF ULTRATHIN SILVER/OXIDE FILMS. In Proceeding 15° Convegno Nazionale delle Tecnologie Fotoniche.
Proceedings (atti dei congressi)
Zola, D; Grilli, MLA; Piegari, A; Sytchkova, A; Giambra, M; Parisi, A; Busacca, A; Fang, M; He, H; Shao, J
Proceedings
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