.
Zola, D., Grilli, M., Piegari, A., Sytchkova, A., Giambra, M.A., Parisi, A., et al. (2013). TOTAL INTERNAL REFLECTION ELLIPSOMETRY FOR THE SPECTROSCOPIC INVESTIGATION OF ULTRATHIN SILVER/OXIDE FILMS. In Proceeding 15° Convegno Nazionale delle Tecnologie Fotoniche.
TOTAL INTERNAL REFLECTION ELLIPSOMETRY FOR THE SPECTROSCOPIC INVESTIGATION OF ULTRATHIN SILVER/OXIDE FILMS
Giambra, Marco Angelo;PARISI, Antonino;BUSACCA, Alessandro;
2013-01-01
Abstract
.
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
