Passeri, D., Dong, C., Angeloni, L., Pantanella, F., Berlutti, F., Marianecci, C., et al. (2014). Thickness measurement of soft thin films on periodically patterned magnetic substrates by phase difference magnetic force microscopy. ULTRAMICROSCOPY, 136, 96-106 [10.1016/j.ultramic.2013.08.001].
Thickness measurement of soft thin films on periodically patterned magnetic substrates by phase difference magnetic force microscopy
CICCARELLO, Francesco;
2014-01-01
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