Archivio istituzionale della ricerca dell'Università degli Studi di Palermo
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EnglishWe report a study by electron paramagnetic resonance on the E0 point defect in amorphous silicon dioxide (a-SiO2). Our experiments were performed on -ray irradiated oxygen-deficient materials and pointed out that the 29Si hyperfine structure of the E0 consists of a pair of lines split by 49 mT. On the basis of the experimental results, a microscopic model is proposed for the E0 center, consisting of a hole trapped in an oxygen vacancy with the unpaired electron sp3 orbital pointing away from the vacancy in a back-projected configuration and interacting with an extra oxygen atom of the a-SiO2 matrix.
| Data di pubblicazione: | 2006 |
| Titolo: | 29Si Hyperfine structure of the E’_alfa center in amorphous silicon dioxide |
| Autori: | Buscarino, G.; Agnello, S.; Gelardi, F. |
| Autori: | |
| Tipologia: | Articolo su rivista |
| Citazione: | Buscarino, G., Agnello, S., & Gelardi, F. (2006). 29Si Hyperfine structure of the E’_alfa center in amorphous silicon dioxide. PHYSICAL REVIEW LETTERS, 97(-), 1-4. |
| Tipo: | Articolo in rivista |
| Digital Object Identifier (DOI): | 10.1103/PhysRevLett.97.135502 |
| Appare nelle tipologie: | 01 - Articolo su rivista |
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| File | Descrizione | Tipologia | Licenza | |
|---|---|---|---|---|
| PhysRevLett.97.135502.pdf | N/A | Administrator Richiedi una copia |
http://hdl.handle.net/10447/26055
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