D TRANCHIDA, Z KIFLIE, PICCAROLO S (2007). Atomic Force Microscope Nanoindentations to Reliably Measure the Young's Modulus of Soft Matter. In A. MNDEZ-VILAS AND J. DAZ (a cura di), Modern Research and Educational Topics in Microscopy (pp. 737-746). Formatex.
Atomic Force Microscope Nanoindentations to Reliably Measure the Young's Modulus of Soft Matter
TRANCHIDA, Davide Domenico;PICCAROLO, Stefano
2007-01-01
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