Lo studio dei materiali pittorici è uno degli obiettivi primari per la caratterizzazione storico- artistica delle opere d’arte poiché fornisce informazioni utili circa i materiali originali e di degrado, la tecnica di esecuzione ed eventuali interventi di restauro pregressi. Tuttavia, la complessità delle indagini archeometriche è legata alla necessità di garantire la salvaguardia del bene culturale che rende essenziale l’uso di tecniche di indagini non o micro invasive. Tra le metodologie d’indagine integrata, l’uso della fluorescenza a raggi X (XRF) e della spettroscopia mediante ablazione laser (LIBS) risponde a tale esigenza e risulta particolarmente utile per la complementarietà delle informazioni fornite sia in termini composizionali che di spessori indagati. Infatti, a differenza dell’analisi XRF, la LIBS non solo permette l’identificazione degli elementi chimici con basso numero atomico ma, attraverso impulsi laser consecutivi sullo stesso punto campione, consente anche di realizzare profili di profondità. In tal modo è possibile ottenere informazioni sulle differenze composizionali tra la superficie ed il materiale di bulk e, dunque, ricostruire la successione stratigrafica caratteristica del campione. Seguendo tale approccio metodologico, sono state condotte analisi XRF e LIBS, sia su frammenti di pitture murali provenienti da diversi siti, sia su stesure campione realizzate in laboratorio con differenti tecniche pittoriche. In particolare, mediante l’analisi LIBS è stato possibile analizzare la stratigrafia dalla superficie degli strati pittorici fino allo strato di preparazione. I risultati hanno permesso di valutare le potenzialità, in campo archeometrico, della tecnica LIBS, rispetto alle tecniche spettroscopiche convenzionali.

Alberghina, M., Barraco, R., Brai, M., Schillaci, T. (2011). Analisi integrata tramite XRF e LIBS per lo studio dei materiali pittorici. In Quaderno degli abstracts del Convegno “La Scienza per l’Arte Contemporanea”, Associazione Italiana di Archeometria (AIAr) (pp.78).

Analisi integrata tramite XRF e LIBS per lo studio dei materiali pittorici

ALBERGHINA, Maria;BARRACO, Rosita Maria Luisa;BRAI, Maria;SCHILLACI, Tiziano
2011-01-01

Abstract

Lo studio dei materiali pittorici è uno degli obiettivi primari per la caratterizzazione storico- artistica delle opere d’arte poiché fornisce informazioni utili circa i materiali originali e di degrado, la tecnica di esecuzione ed eventuali interventi di restauro pregressi. Tuttavia, la complessità delle indagini archeometriche è legata alla necessità di garantire la salvaguardia del bene culturale che rende essenziale l’uso di tecniche di indagini non o micro invasive. Tra le metodologie d’indagine integrata, l’uso della fluorescenza a raggi X (XRF) e della spettroscopia mediante ablazione laser (LIBS) risponde a tale esigenza e risulta particolarmente utile per la complementarietà delle informazioni fornite sia in termini composizionali che di spessori indagati. Infatti, a differenza dell’analisi XRF, la LIBS non solo permette l’identificazione degli elementi chimici con basso numero atomico ma, attraverso impulsi laser consecutivi sullo stesso punto campione, consente anche di realizzare profili di profondità. In tal modo è possibile ottenere informazioni sulle differenze composizionali tra la superficie ed il materiale di bulk e, dunque, ricostruire la successione stratigrafica caratteristica del campione. Seguendo tale approccio metodologico, sono state condotte analisi XRF e LIBS, sia su frammenti di pitture murali provenienti da diversi siti, sia su stesure campione realizzate in laboratorio con differenti tecniche pittoriche. In particolare, mediante l’analisi LIBS è stato possibile analizzare la stratigrafia dalla superficie degli strati pittorici fino allo strato di preparazione. I risultati hanno permesso di valutare le potenzialità, in campo archeometrico, della tecnica LIBS, rispetto alle tecniche spettroscopiche convenzionali.
2011
La Scienza per l’Arte Contemporanea
Ferrara
1-4 Marzo 2011
2011
1
Alberghina, M., Barraco, R., Brai, M., Schillaci, T. (2011). Analisi integrata tramite XRF e LIBS per lo studio dei materiali pittorici. In Quaderno degli abstracts del Convegno “La Scienza per l’Arte Contemporanea”, Associazione Italiana di Archeometria (AIAr) (pp.78).
Proceedings (atti dei congressi)
Alberghina, M; Barraco, RML; Brai, M; Schillaci, T
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/10447/53810
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact