Archivio istituzionale della ricerca dell'Università degli Studi di Palermo

AGNELLO S, BUSCARINO G, CANNAS M, MESSINA F, GRANDI S, MAGISTRIS A (2006). Structural inhomogeneity of Ge-doped amorphous SiO2 probed by photoluminescence lifetime measurements under synchrotron radiation.. In Conference Program and Book of Abstract Eurodim 10 (pp.184-184). ROMA : Aracne.

Structural inhomogeneity of Ge-doped amorphous SiO2 probed by photoluminescence lifetime measurements under synchrotron radiation.

AGNELLO, Simonpietro;BUSCARINO, Gianpiero;CANNAS, Marco;MESSINA, Fabrizio;
2006-01-01
10TH EUROPHYSICAL CONFERENCE ON DEFECTS IN INSULATING MATERIALS
MILANO, ITALY.
JULY 10-14, 2006
2006
(vol. A02-32, pp. 184). ISBN/ISSN: 88-548-0668-4. ROMA: Aracne (ITALY) - ISSN:
AGNELLO S, BUSCARINO G, CANNAS M, MESSINA F, GRANDI S, MAGISTRIS A (2006). Structural inhomogeneity of Ge-doped amorphous SiO2 probed by photoluminescence lifetime measurements under synchrotron radiation.. In Conference Program and Book of Abstract Eurodim 10 (pp.184-184). ROMA : Aracne.
Proceedings (atti dei congressi)
AGNELLO S; BUSCARINO G; CANNAS M; MESSINA F; GRANDI S; MAGISTRIS A
Proceedings
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