Archivio istituzionale della ricerca dell'Università degli Studi di Palermo

Vaccaro, G., Buscarino, G., Agnello, S., Gelardi, F.M. (2008). Variability of the Si-O-Si angle in amorphous SiO2 probed by electron paramagnetic resonance and Raman spectroscopy. ??????? it.cilea.surplus.oa.citation.tipologie.CitationProceedings.prensentedAt ??????? 7th Symposium "SiO2, advanced dielectrics and related devices".

Variability of the Si-O-Si angle in amorphous SiO2 probed by electron paramagnetic resonance and Raman spectroscopy

VACCARO, Gianfranco;BUSCARINO, Gianpiero;AGNELLO, Simonpietro;GELARDI, Franco Mario
2008-01-01
Settore FIS/01 - Fisica Sperimentale
7th Symposium "SiO2, advanced dielectrics and related devices"
2008
2
Vaccaro, G., Buscarino, G., Agnello, S., Gelardi, F.M. (2008). Variability of the Si-O-Si angle in amorphous SiO2 probed by electron paramagnetic resonance and Raman spectroscopy. ??????? it.cilea.surplus.oa.citation.tipologie.CitationProceedings.prensentedAt ??????? 7th Symposium "SiO2, advanced dielectrics and related devices".
Proceedings (atti dei congressi)
Vaccaro, G; Buscarino, G; Agnello, S; Gelardi, FM
Proceedings
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