Archivio istituzionale della ricerca dell'Università degli Studi di Palermo

Cammarata, M., Dutta, D., Rizzo, P., Sohn, H. (2009). Outlier analysis and principal component analysis to detect fatigue cracks in waveguides. In PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING. Tribikram Kundu [10.1117/12.815512].

Outlier analysis and principal component analysis to detect fatigue cracks in waveguides

CAMMARATA, Marcello;
2009-01-01
Settore ICAR/08 - Scienza Delle Costruzioni
2009
Spie The International Society for Optical Engineering
8/4/2009
2009
8
https://dx.doi.org/10.1117/12.815512
Cammarata, M., Dutta, D., Rizzo, P., Sohn, H. (2009). Outlier analysis and principal component analysis to detect fatigue cracks in waveguides. In PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING. Tribikram Kundu [10.1117/12.815512].
Proceedings (atti dei congressi)
Cammarata, M; Dutta, D;Rizzo, P; Sohn, H
Proceedings
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