Sfoglia per Rivista ULTRAMICROSCOPY
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Data di pubblicazione | Titolo | Autori | Tipologia | Autore(i) | File |
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1-gen-2014 | Thickness measurement of soft thin films on periodically patterned magnetic substrates by phase difference magnetic force microscopy | CICCARELLO, Francesco + | 01 - Contributo in rivista::1.01 Articolo in rivista | Passeri, D; Dong, C; Angeloni, L; Pantanella, F, Natalizi, T; Berlutti, F; Marianecci, C; Ciccarello, F; Rossi, M |
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