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Data di pubblicazione Titolo Autori Tipologia Autore(i) File
1-gen-2014 Thickness measurement of soft thin films on periodically patterned magnetic substrates by phase difference magnetic force microscopy CICCARELLO, Francesco + 01 - Contributo in rivista::1.01 Articolo in rivista Passeri, D; Dong, C; Angeloni, L; Pantanella, F, Natalizi, T; Berlutti, F; Marianecci, C; Ciccarello, F; Rossi, M
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